體積/表面電阻率測(cè)量是通過精密電極系統(tǒng)與微弱電流檢測(cè)技術(shù)，量化材料絕緣特性的核心手段。

核心原理公式

1.體積電阻率：  

  ρv = Rv×A/t

  其中Rv為體積電阻，A為測(cè)量電極面積，t為試樣厚度。  

  反映材料內(nèi)部對(duì)電流的阻礙能力。

表面電阻率：  

  ρs = Rs×P/g

  其中Rs為表面電阻，P 為電極周長，g為電極間隙。  

  反映材料表面對(duì)電流的阻礙能力。

 2. 測(cè)試系統(tǒng)構(gòu)成

電極系統(tǒng)：  

  采用三電極結(jié)構(gòu)（如同心圓環(huán)電極），包含：

  高壓電極（施加測(cè)試電壓）

  測(cè)量電極（收集電流）

  保護(hù)電極（消除邊緣漏電和體積電流干擾）  

  該設(shè)計(jì)可分離體積電流與表面電流，確保測(cè)量準(zhǔn)確性。

測(cè)量電路原理：  

  對(duì)試樣施加恒定直流電壓（通常為100V、500V或1000V）。

  通過靜電計(jì)、皮安計(jì)或高阻計(jì)檢測(cè)流經(jīng)試樣的微弱電流（可低至 10^-16A）。

  采用屏蔽與接地技術(shù)，防止電磁干擾和雜散電容影響。

 3. 關(guān)鍵技術(shù)：微弱電流檢測(cè)

高阻計(jì)法：  

  基于運(yùn)算放大器反饋電路，將電流轉(zhuǎn)換為可測(cè)電壓信號(hào)。

電荷比較法：  

  通過積分電路測(cè)量電荷累積速率，適用于超高電阻材料。

標(biāo)準(zhǔn)參考：  

  遵循 IEC 60093、ASTM D257、GB/T 1410 等標(biāo)準(zhǔn)，規(guī)范電極尺寸、加壓時(shí)間、環(huán)境條件（溫濕度需嚴(yán)格控制）。